CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)

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Produktdetails

Artikelnummer 233377762 Erscheinungsdatum 2026/06/27 Listenpreis €48.00 Modellnummer 233377762
Kategorie
  1. Books
  2. Engineering & Transportation
  3. Engineering
  4. Electrical & Electronics
  5. Circuits
  6. Design

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies. Read more

ISBN10 1402083629
ISBN13 978-1402083624
Edition 2008th
Language English
Publisher Springer
Dimensions 6.14 x 0.67 x 9.21 inches
Item Weight 1 pounds
Print length 212 pages
Part of series Frontiers in Electronic Testing
Publication date June 21, 2008

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